Abnormal shape of L2 trace was conf

Abnormal shape of L2 trace was confirmed by X-section. However it was within specification.
It is difficult to think that this phenomenon is related to Bin120 defect.
Because this phenomenon doesn't influence capacitance between L1 and L2.
When there are the abnormal surface area of L2 or the abnormal distance of between the L1 and L2, it influences Bin120 defect

結果 (日本語) 1:

L2 トレースの異常な形状は X セクションによって確認されました。しかし、仕様の範囲内だった。この現象は、Bin120 に関連するいると思うしにくい欠陥します。この現象は L1 と L2 間の静電容量に影響を与えるため。Bin120 欠陥影響 L2 の異常の表面積や L1 と L2 間の異常な距離が存在する場合は、

結果 (日本語) 2:

L2 しかし
この
この
L2

結果 (日本語) 3:

トレース異常2の上面形状を確認した。しかしそれは仕様の範囲内であった。この現象はbin120欠陥に関連していることを考えることは困難である。この現象に影響しないとの間の容量であるので。l、l 1とl 2との間の距離の異常表面の異常領域があるとき、それはbin120欠陥の影響