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4.2.3 Condensation on devices shall

4.2.3 Condensation on devices shall be avoided in both parts of the ramp down by ensuring that the test chamber (dry bulb) temperature exceeds the wet-bulb temperature at all times

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4.2.3 凝縮装置を避けなければならないランプの両方の部分でダウン試験室 (乾球) 温度が常時湿球温度を超えていることを確認して

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4.2.3デバイスに結露がダウン試験チャンバー（ドライバルブ）温度は常に湿球温度を超えることを保証することによって、ランプの両方の部分に避けなければなりません

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デバイス上の4 . 2 . 3の凝縮を試験室を確保してランプダウンの両方の部分では避けなければならない（乾球温度）のすべての回では、湿球温度を超える

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