Test conditions consist of a temper

Test conditions consist of a temperature, relative humidity, and duration used in conjunction with an
electrical bias configuration specific to the device.

結果 (日本語) 1:

テスト条件は、温度、相対湿度、およびと組み合わせて使用期間で構成されます、デバイスに固有の電気のバイアス構成。

結果 (日本語) 2:

試験条件は、と組み合わせて使用される温度、相対湿度、および期間から成る
デバイスに固有の電気的バイアスの設定。

結果 (日本語) 3:

試験条件は、温度、相対湿度、および持続時間をデバイスに電気的バイアスの具体的な構成の1と組み合わせて使用された。