This test is used to determine the

This test is used to determine the effects of bias conditions and temperature on solid state devices over time. It simulates the devices’ operating condition in an accelerated way, and is primarily for device qualification and reliability monitoring. A form of high temperature bias life using a short duration, popularly known as burn-in, may be used to screen for infant mortalityrelated failures. The detailed use and application of burn-in is outside the scope of this document

結果 (日本語) 1:

このテストは、時間の経過とともに固体デバイスに及ぼすバイアス条件と温度を決定する使用されます。それは加速の方法でデバイスの動作状態をシミュレートし、は、主にデバイス資格認定と信頼性の監視します。高温バイアス寿命短い期間、バーンイン、として一般に知られているを使用してのフォームを使用可能性があります幼児 mortalityrelated エラーの画面に。詳細な利用とバーンインのアプリケーションこのドキュメントの範囲外です。

結果 (日本語) 2:

この試験は、経時的な固体デバイス上のバイアス条件および温度の影響を決定するために使用されます。これは、加速の方法でデバイスの動作状態をシミュレートし、デバイスの資格と信頼性監視のためのものです。一般に、バーンインとして知られる短い期間を使用して、高温バイアス寿命の形態は、乳児が障害をmortalityrelatedをスクリーニングするために使用することができます。バーンインの詳細な使用およびアプリケーションは、この文書の範囲外であります

結果 (日本語) 3:

このテストは、バイアス条件と時間の上の固体素子に対する温度の影響を決定するために使用されます。それを加速したように装置の動作状態をシミュレートし、装置の信頼性を監視するための資格とは、主に。短期間による高温バイアス生活の形態は、バーンインとして一般に知られて、幼児のmortalityrelated不良をスクリーニングするために使用されるかもしれません。このドキュメントの範囲の外の詳細を使用して、アプリケーションのバーンイン